ஒருங்கிணைப்பு அளவிடும் இயந்திரங்களின் ஒரு அச்சமைப்பைப் பாதிக்கும் காரணிகள்

ஒருங்கிணைப்பு அளவீட்டு இயந்திரங்கள் (CMMs) இயந்திரங்கள், மின்னணுவியல், கருவியியல் மற்றும் நெகிழிகள் போன்ற தொழில்களில் பரவலாகப் பயன்படுத்தப்படுகின்றன. CMM-கள் பரிமாணத் தரவுகளை அளவிடுவதற்கும் பெறுவதற்கும் ஒரு திறமையான முறையாகும், ஏனெனில் அவை பல மேற்பரப்பு அளவீட்டுக் கருவிகளையும் விலையுயர்ந்த ஒருங்கிணைந்த அளவிகளையும் மாற்றி அமைக்க முடியும். இதன் மூலம், சிக்கலான அளவீட்டுப் பணிகளுக்குத் தேவைப்படும் நேரத்தை மணிநேரங்களிலிருந்து நிமிடங்களாகக் குறைக்கின்றன—இது மற்ற கருவிகளால் அடைய முடியாத ஒரு சாதனையாகும்.

ஒருங்கிணைப்பு அளவிடும் இயந்திரங்களைப் பாதிக்கும் காரணிகள்: CMM அளவீடுகளில் ஒருங்கச்சுத்தன்மையைப் பாதிக்கும் காரணிகள். தேசிய தரநிலையில், CMM-களுக்கான ஒருங்கச்சுத்தன்மை சகிப்புத்தன்மை மண்டலம் என்பது, t என்ற விட்டம் சகிப்புத்தன்மையுடன் கூடிய ஒரு உருளைப் பரப்பிற்குள் இருக்கும் மற்றும் CMM-இன் ஆதார அச்சுடன் ஒருங்கச்சுத்தன்மை கொண்ட பகுதியாக வரையறுக்கப்படுகிறது. இது மூன்று கட்டுப்பாட்டுக் கூறுகளைக் கொண்டுள்ளது: 1) அச்சுக்கு-அச்சு; 2) அச்சுக்கு-பொது அச்சு; மற்றும் 3) மையத்திற்கு-மையம். 2.5-பரிமாண அளவீடுகளில் ஒருங்கச்சுத்தன்மையைப் பாதிக்கும் காரணிகள்: 2.5-பரிமாண அளவீடுகளில் ஒருங்கச்சுத்தன்மையைப் பாதிக்கும் முதன்மைக் காரணிகள், அளவிடப்படும் கூறு மற்றும் ஆதாரக் கூறு ஆகியவற்றின் மைய நிலை மற்றும் அச்சுத் திசை, குறிப்பாக அச்சுத் திசை ஆகும். எடுத்துக்காட்டாக, ஒரு ஆதார உருளையில் இரண்டு குறுக்குவெட்டு வட்டங்களை அளவிடும்போது, ​​இணைப்புக் கோடு ஆதார அச்சாகப் பயன்படுத்தப்படுகிறது.

அளவிடப்பட்ட உருளையின் மீது இரண்டு குறுக்குவெட்டு வட்டங்களும் அளவிடப்பட்டு, ஒரு நேர்கோடு வரையப்பட்டு, பின்னர் அச்சு ஒருங்கமைவு கணக்கிடப்படுகிறது. ஆதாரப்புள்ளியில் உள்ள இரண்டு சுமைப் பரப்புகளுக்கு இடையேயான தூரம் 10 மிமீ என்றும், ஆதாரப்புள்ளி சுமைப் பரப்பிற்கும் அளவிடப்பட்ட உருளையின் குறுக்குவெட்டிற்கும் இடையேயான தூரம் 100 மிமீ என்றும் வைத்துக்கொண்டால், ஆதாரப்புள்ளியின் இரண்டாவது குறுக்குவெட்டு வட்டத்தின் மைய நிலையானது, குறுக்குவெட்டு வட்டத்தின் மையத்துடன் 5 மைக்ரோமீட்டர் (um) அளவீட்டுப் பிழையைக் கொண்டிருந்தால், அளவிடப்பட்ட உருளையின் குறுக்குவெட்டு வரை ஆதாரப்புள்ளியின் அச்சு நீட்டப்படும்போது அது ஏற்கனவே 50 மைக்ரோமீட்டர் (um) தொலைவில் இருக்கும் (5 மைக்ரோமீட்டர் x 100:10). இந்த நிலையில், அளவிடப்பட்ட உருளையானது ஆதாரப்புள்ளியுடன் அச்சு ஒருங்கமைவாக இருந்தாலும், இருபரிமாண மற்றும் 2.5-பரிமாண அளவீடுகளின் முடிவுகளில் 100 மைக்ரோமீட்டர் (um) பிழை இருக்கும் (விட்டம் அதே அளவு சகிப்புத்தன்மை மதிப்பையும், ஆரம் 50 மைக்ரோமீட்டரையும் குறிக்கிறது).